Impedance measurements at the semiconductor-solution interface / J. Leduc and S.M. Ahmed. : M38-13/84-15E-PDF

"The physics and chemistry of the semiconductor-solution interface have been presented in detail with particular reference to impedance measurements and determination of the flat band potential of the semiconductor surface. The basic theory of A.C. circuits applied to impedance measurements at the semiconductor-solution interface has been developed. Techniques for impedance measurements and data analysis have been described for a method using an LCR meter and a computer for experimental control and data acquisition. The necessary software has been developed"--Abstract, page i.

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http://publications.gc.ca/pub?id=9.868283&sl=1

Renseignements sur la publication
Ministère/Organisme Canada. Energy, Mines and Resources Canada.
Canada Centre for Mineral and Energy Technology.
Energy Research Program (Canada)
Mineral Sciences Laboratories (Canada)
Titre Impedance measurements at the semiconductor-solution interface / J. Leduc and S.M. Ahmed.
Titre de la série CANMET report ; 84-15E
Type de publication Série - Voir l'enregistrement principal
Langue [Anglais]
Autres langues publiées [Français]
Format Électronique
Document électronique
Note(s) Issued also in French under title: Mesures de l'impédance à l'interface semi-conducteur-solution.
Cover title.
"June 1985."
Issued by: Energy Research Program and Mineral Sciences Laboratories.
Digitized edition from print [produced by Natural Resources Canada].
Includes bibliographical references.
Includes abstract in French.
Information sur la publication Ottawa, Canada : Canada Centre for Mineral and Energy Technology = Centre canadien de la technologie des minéraux et de l'énergie, 1985.
©1984
Auteur / Contributeur Leduc, J. (Jean), 1943-author.
Ahmed, S. M. (Syed M.), 1943-author.
Description 1 online resource (iv, 82 pages) : illustrations.
Numéro de catalogue
  • M38-13/84-15E-PDF
Numéro de catalogue du ministère 307071
Descripteurs Chemistry
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